霍尔效应测试仪详细介绍

随着半导体物理学的迅猛发展，霍尔系数和电导率的测量已经称为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测得霍尔系数和电导率随温度变化的关系，还可以求出半导体材料的杂质电离能和材料的禁带宽度。用霍尔效应制备的各种传感器，已广泛应用于工业自动化技术、检测技术和信息处理各个方面。蓝海科仪的霍尔效应仪通过用霍尔元件测量磁场，判断霍尔元件载流子类型，计算载流子的浓度和迁移速度，以及了解霍尔效应测试中的各种负效应及消除方法。

     蓝海科仪HMS-RT为性能稳定、功能强大、性价比高的室温霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体***拥有广泛的用户和知名度。仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料的重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可。本系统具有如下特点：

1、高精密度电流源

输出电流之***度可达1μA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。

2、高精密度电压表

使用高精度电压表，电压测量能力可达μV等级，上限可达2V，适合用于绝大多数材料测量。

3、外型精简、操作简单

外型轻巧、美观大方，精心研制的电动换向永磁铁，磁铁极性更换灵活方便，只需按键一次磁铁就可以轻松换向。

4、独立的电流电压接口

    具有独立的恒流源输出和电压测量接口，方便研究者用于测量材料的I-V曲线等参数。

5、低温扩展能力强

仪器预留低温选件测量接口，可以选配蓝海科仪霍尔测试仪专用液氮恒温器，实现78K-350K变温霍尔效应测量。

6、可插拔样品托

自行开发的可插拔样品托，精致美观使用方便，随机附赠额外的样品托，方便使用者安装样品。

      本仪器系统由可换向永磁铁、高精度恒流源、微伏电压表、开关换向模块等组成。本仪器用于霍尔效应及其应用、载流子类型、电阻率、霍尔迁移率等测试以及应用于教学实验。除了仪器自带的标准样品以外，用户可以方便的安装自己的样品到样品托上，用于科学研究，使试验变得轻松简单。

      本仪器可以配合蓝海科仪低温恒温器实现78K-350变温测量，选配高精度控温仪，可以实现全温区控温精度±0.1K。自主开发的可插拔样品托，减少了测试过程中的连线与操作，让使用者更多的精力集中在测试本身而不是设备上。本仪器预留有恒温输出接口以及电压输入接口，可以单独作为恒流源和微伏表使用。   

本仪器主要技术指标：

u 磁感应强度：大于4000高斯

u 样品电流：1微安～50毫安

u 测量电压：1微伏～1.999伏

u 电流分辨率：1微安

u 电压分辨率：1微伏

u 永磁铁换向：电动

u 磁铁换向时间：3秒